DFT In Automotive

Dans cette interview, Ed Sperling (Semiconductor Engineering) s’entretient avec Lee Harrison, directeur des solutions IC automobiles chez Siemens EDA, sur l’application du DFT (Design for Test) dans le secteur automobile. Harrison explique que les bases du DFT restent les mêmes, mais que les exigences de sécurité fonctionnelle, de qualité et de sécurité imposent des techniques supplémentaires. Il détaille l’utilisation de LBiST (logic built-in self-test) et MBiST (memory built-in self-test) pour atteindre une couverture de diagnostic élevée, essentielle pour la certification ISO 26262. Il aborde également la notion de ‘safety island’, une zone dédiée sur la puce pour gérer les tests en système. La sécurité est un enjeu majeur, avec la nécessité de garder un accès aux fonctions de test pour l’analyse des défaillances, tout en protégeant l’accès via des mécanismes de confiance. Les réglementations comme le CRA européen et la norme ISO 21434 renforcent ces exigences. Enfin, l’arrivée des chiplets pose de nouveaux défis, notamment l’intégration de composants de fournisseurs différents, mais la norme IEEE 1838 facilite l’interconnexion. La surveillance de la fiabilité et la maintenance prédictive sont des domaines en développement, où l’IA pourrait jouer un rôle clé.